[TiMing]：CiGuangPanTeXingCeShiZhuangZhi
[申请号]：95100845[公开号]：1115853
[公告号]：1071896[申请日期]：19950320
[公开日期]：19960131[公告日期]：00000000
[授权日期]：00000000
[专利类型]：发明专利
[国际类型]：G01N21/21
[申请人]：华中理工大学
[ShenQingRen]：HuaZhongLiGongDaXue
[国家省市]：湖北(42)
[地址]：湖北省武汉市武昌珞喻路151号
[DiZhi]：HuBeiShengWuHanShiWuChangZuoYuLu151Hao
[邮编]：430074
[发明人]：谭立国;李佐宜 [FaMingRen]：TanLiGuo、LiZuoYi
[代理人]：方放;杨为国 [DaiLiRen]：FangFang,YangWeiGuo
[代理机构]：华中理工大学专利事务所(42201)[代理地址]：湖北省武汉市武昌珞喻路151号(430074)
[审批历史]：
[页数]：5[附图]：3[优先权]：[PCT]：[范畴]：31F[权利要求]：
一种磁光盘特性测试装置，包括线偏振光源、平面反射镜、偏振分光镜、光电转换电路、差动放大器、自动扫场电磁铁、磁场检测电路、三角波发生电路、磁场反馈电路、磁场驱动电路以及显示磁光回线的Ｘ－Ｙ记录仪；其特
[权利要求数]：5
[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com
[摘要]： 磁光盘特性测试装置，采用伺服跟踪机构，差动放大器的信号经伺服跟踪机构推动偏振分光镜转台旋转，转角信息由角度指示器显示并送Ｘ－Ｙ记录仪，光电转换电路输出电压由电压指示器显示。本装置采用一系列措施增加伺服跟踪机构的稳定性、排除传动误差，能同时测量样品的磁光特性（克尔角、克尔效应磁滞回线、矫顽力和矩形度）和反射率，大大简化了测试操作过程，角度跟踪精度可达０．００１°，可用于磁光薄膜材料以及磁光盘的研制、生产和商检过程。
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