[TiMing]：BanDaoTiGuangMinGuanDongTaiTeXingCeShiFangFaBanDaoTiGuangMinGuanDongTaiTeXingCeShiFangFa
[申请号]：93104704[公开号]：1081766
[公告号]：1030547[申请日期]：19930426
[公开日期]：19940209[公告日期]：00000000
[授权日期]：19951022
[专利类型]：发明专利
[国际类型]：G01R31/26
[申请人]：西安电子科技大学
[ShenQingRen]：XiAnDianZiKeJiDaXue
[国家省市]：西安(87)
[地址]：陕西省西安市太白路2号
[DiZhi]：ShanXiShengXiAnShiTaiBaiLu2Hao
[邮编]：710071
[发明人]：安毓英;胡波;李晓春 [FaMingRen]：AnZuoYing、HuBo、LiXiaoChun
[代理人]：王品华 [DaiLiRen]：WangPinHua
[代理机构]：陕西电子工业专利事务所(61205)[代理地址]：陕西省西安市太白路2号(710071)
[审批历史]： 1999年6月30日因费用终止日
[页数]：5[附图]：10[优先权]： 中国1992年12月5日92114259.5[PCT]：[范畴]：38F31F[权利要求]：
一种用于定量测试半导体光敏管动态特性的方法，包括扫描电压、阶梯电压的产生及控制技术，其特征在于：ａ、利用非相干光源产生线性扫描光强及均匀递增的阶梯光强；ｂ、在扫描电流激励的条件下，利用光功率计或光电
[权利要求数]：0
[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com
[摘要]： 本发明属电子技术领域，特别是涉及半导体光敏管的动态伏安特性、光电特性的测试方法。本发明利用发光二极管产生线性扫描光强度与均匀递增阶梯光强，通过解决光功率信号的动态扫描控制及定标技术，从而实现半导体光敏管动态特性的快速、直观的定量测试，可以给出光敏管完整的伏安特性及光电特性曲线，所给的曲线可以反映出采用静态测试方法而不能发现的半导体光敏管的一些交流特性参数。
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