[TiMing]：YangPinFaSheGuangPuFenXiDeFangFaHeZhuangZhiYangPinFaSheGuangPuFenXiDeFangFaHeZhuangZhi
[申请号]：88108289[公开号]：1033418
[公告号]：1014455[申请日期]：19881130
[公开日期]：19890614[公告日期]：00000000
[授权日期]：19920212
[专利类型]：发明专利
[国际类型]：G01N21/67
[申请人]：株式会社岛津制作所
[ShenQingRen]：ZhuShiHuiSheDaoJinZhiZuoSuo
[国家省市]：日本(JP)
[地址]：日本京都市
[DiZhi]：RiBenJingDuShi
[邮编]：
[发明人]：福井勋;林修三;深山隆男 [FaMingRen]：FuJingXun、LinXiuSan、ShenShanLongNan
[代理人]：颜承根 [DaiLiRen]：YanChengGen
[代理机构]：上海专利商标事务所(31100)[代理地址]：上海市桂平路435号(200233)
[审批历史]：
[页数]：9[附图]：6[优先权]： 日本1988年4月26日103167/88 日本1987年11月30日303988/87[PCT]：[范畴]：31E30A[权利要求]：
一种对包含被分析元素的样品进行发射光谱分析的方法，包括： 以周期脉冲的形式提供能量，每一脉冲波形包括一较高的能量部分和一与所述的较高的能量部分连续的较低的能量部分，所述的较高的能量部分提供足够数量
[权利要求数]：19
[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com
[摘要]： 使用火花放电的发射光谱分析的方法和装置，其特征在于，为样品分析所进行的第一次火花放电包括一提供足够数量的能量使包含在样品中的元素汽化的高能量部分和一提供足够数量的能量使被汽化元素发射光的低能量部分；其特征还在于，光谱学测量在该低能量部分进行，或在该高能量部分最后部分开始并在低能量部分继续进行。
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