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自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法

[题名]:自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法

[TiMing]:ZiDongHuaJiChengDianLuZhengJiCeShiXiTong、ZhuangZhiJiQiFangFa

[申请号]:02106802[公开号]:1376932

[公告号]:0000000[申请日期]:20020301

[公开日期]:20021030[公告日期]:00000000

[授权日期]:00000000

[专利类型]:发明专利

[国际类型]:G01R31/28;H01L21/66

[申请人]:威盛电子股份有限公司

[ShenQingRen]:WeiShengDianZiGuFenYouXianGongSi

[国家省市]:台湾(71)

[地址]:台湾省台北县新店市中正路533号8楼

[DiZhi]:TaiWanShengTaiBeiXianXinDianShiZhongZhengLu533Hao8Lou

[邮编]:

[发明人]:祁明仁;郭澎嘉  [FaMingRen]:QiMingRen、GuoPengJia

[代理人]:王学强  [DaiLiRen]:WangXueQiang

[代理机构]:北京集佳商标专利事务所(11227)[代理地址]:北京市海淀区学院路41号5号楼希格玛办公中心101室(100088)

[审批历史]:

[页数]:17[附图]:5[优先权]:[PCT]:[范畴]:31F[权利要求]:
    一种自动化集成电路整机测试系统,其特征为:包括:    一机架;    至少一测试用计算机,设置于该机架上,适于承载及测试一被测集成电路;    至少一自动插拔机构,设置于该机架上,适于将该被测集成电路置入该测

[权利要求数]:50

[来源]: 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]: 一种自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法,该系统包括一机架,至少一测试用计算机设置于机架上用于承载及测试一被测集成电路,至少一自动插拔机构设置于机架上,适于将被测集成电路置入测试用计算机及自测试用计算机中移除;以及至少一控制装置,电连接测试用计算机及自动插拔机构,用以控制自动插拔机构的动作及测试用计算机的测试。测试用计算机于承载被测集成电路后构成一整机计算机,而可以执行各种一般性应用程序与特定测试程序以进行整机测试。

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