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半导体器件的制造装置和制造系统BanDaoTiQiJianDeZhiZaoZhuangZhiHeZhiZaoXiTong

[题名]:半导体器件的制造装置和制造系统BanDaoTiQiJianDeZhiZaoZhuangZhiHeZhiZaoXiTong

[TiMing]:BanDaoTiQiJianDeZhiZaoZhuangZhiHeZhiZaoXiTongBanDaoTiQiJianDeZhiZaoZhuangZhiHeZhiZaoXiTong

[申请号]:02800931[公开号]:1460283

[公告号]:1208808[申请日期]:20020326

[公开日期]:20031203[公告日期]:00000000

[授权日期]:20050629

[专利类型]:发明专利

[国际类型]:H01L21/02;H01L21/68;H01L21/304

[申请人]:株式会社东芝

[ShenQingRen]:ZhuShiHuiSheDongZhi

[国家省市]:日本(JP)

[地址]:日本东京都

[DiZhi]:RiBenDongJingDu

[邮编]:

[发明人]:宮崎邦浩  [FaMingRen]:QiBangHao

[代理人]:王永刚  [DaiLiRen]:WangYongGang

[代理机构]:中国国际贸易促进委员会专利商标事务所(11038)[代理地址]:北京市阜成门外大街2号8层(100037)

[审批历史]:

[页数]:16[附图]:6[优先权]:    日本2001年3月28日092543/01[PCT]:    [范畴]:[权利要求]:
    一种半导体器件的制造装置,其特征在于,具备:    投入部,投入保持了半导体衬底的运送箱;    处理部,取入被投入到上述投入部中的上述半导体衬底,进行该半导体衬底的处理;以及    运出部,被配置在与上述投入

[权利要求数]:0

[来源]: 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]: 半导体器件的制造装置(13),包括投入部(13-1)、处理部和运出部(13-2)。投入部(13-1)接受保持了半导体衬底的运送箱的投入。处理部取入已被投入到投入部(13-1)中的半导体衬底并进行半导体衬底的处理。运出部(13-2)被配置在与投入部(13-1)不同的面上,运出保持从半导体衬底处理部排出的半导体衬底的运送箱。

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