工作周期效率静态随机存取存储器单元测试GongZuoZhouQiXiaoLvJingTaiSuiJiCunQuCunChuQiDanYuanCeShi

[题名]：工作周期效率静态随机存取存储器单元测试GongZuoZhouQiXiaoLvJingTaiSuiJiCunQuCunChuQiDanYuanCeShi

[TiMing]：GongZuoZhouQiXiaoLvJingTaiSuiJiCunQuCunChuQiDanYuanCeShiGongZuoZhouQiXiaoLvJingTaiSuiJiCunQuCunChuQiDanYuanCeShi

[申请号]：02812582[公开号]：1518744

[公告号]：0000000[申请日期]：20020711

[公开日期]：20040804[公告日期]：00000000

[授权日期]：00000000

[专利类型]：发明专利

[国际类型]：G11C29/00

[申请人]：国际商业机器公司

[ShenQingRen]：GuoJiShangYeJiQiGongSi

[国家省市]：美国(US)

[地址]：美国纽约州

[DiZhi]：MeiGuoNiuYueZhou

[邮编]：

[发明人]：吉斯莱恩·英伯特德特雷米奥利斯;帕斯卡尔·坦霍夫 [FaMingRen]：JiSiLaiEn·YingBoTeDeTeLeiMiAoLiSi、PaSiKaEr·TanHuoFu

[代理人]：邸万奎;黄小临 [DaiLiRen]：ZuoWanKui,HuangXiaoLin

[代理机构]：柳沈知识产权律师事务所(11105)[代理地址]：北京市朝阳区北辰东路8号汇宾大厦A0601(100101)

[审批历史]：

[页数]：10[附图]：7[优先权]：美国2001年7月17日09/907,325[PCT]： [范畴]：[权利要求]：
一种集成的存储结构，它具有内建的测试部分，所述集成的存储结构包括：　　　　存储单元；　　　　连接到所述存储单元的位线和字线；　　　　连接到多个所述字线的字线解码器；　　　　位线恢复器件，连接到所述位

[权利要求数]：0

[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]： 本发明的一种方法和结构包括一种集成的存储结构，它具有内建的测试部分。所述集成的存储结构包括：存储单元；连接到所述存储单元的位线和字线；连接到多个所述字线的字线解码器；位线恢复器件，连接到所述位线，用于在读取和写入操作期间对位线充电；和连接到字线的时钟电路。在测试模式期间，所述字线解码器同时选择多个字线，其中位线恢复器件被保持在激活状态，并且所述时钟电路将所述多个字线和所述位线恢复器件保持在激活状态达到超过正常读取周期的时间。本发明也包括连接到所述存储单元的晶体管。所述晶体管包括在测试模式期间被加以应力的位线触点。

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