集成电路测试装置的定时校正方法及其装置JiChengDianLuCeShiZhuangZhiDeDingShiXiaoZhengFangFaJiQiZhuangZhi

[题名]：集成电路测试装置的定时校正方法及其装置JiChengDianLuCeShiZhuangZhiDeDingShiXiaoZhengFangFaJiQiZhuangZhi

[TiMing]：JiChengDianLuCeShiZhuangZhiDeDingShiXiaoZhengFangFaJiQiZhuangZhiJiChengDianLuCeShiZhuangZhiDeDingShiXiaoZhengFangFaJiQiZhuangZhi

[申请号]：01116843[公开号]：1370997

[公告号]：1199049[申请日期]：20010216

[公开日期]：20020925[公告日期]：00000000

[授权日期]：20050427

[专利类型]：发明专利

[国际类型]：G01R31/28

[申请人]：株式会社爱德万测试

[ShenQingRen]：ZhuShiHuiSheAiDeWanCeShi

[国家省市]：日本(JP)

[地址]：日本东京都

[DiZhi]：RiBenDongJingDu

[邮编]：

[发明人]：冈安俊幸;关信介  [FaMingRen]：GangAnJunXing、GuanXinJie

[代理人]：宋军  [DaiLiRen]：SongJun

[代理机构]：柳沈知识产权律师事务所(11105)[代理地址]：北京市朝阳区北辰东路8号汇宾大厦A0601(100101)

[审批历史]：

[页数]：15[附图]：13[优先权]：[PCT]：[范畴]：31F[权利要求]：
    一种使用具有基准比较器的探针的ＩＣ测试装置的定时校正方法，包括下面的步骤：    （ａ）上述探针从外部顺序选择地接触ＩＣ插座的各个管脚；    （ｂ）从上述ＩＣ测试装置的驱动器向上述ＩＣ插座的各个管脚施加校

[权利要求数]：0

[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]： 一种ＩＣ测试装置的定时校正精度高、廉价完成的定时校正方法，设有探针（３００），可以接触安装被测试ＩＣ的ＩＣ插座（２０３）的各个管脚、取出提供给各个管脚的信号并向各个管脚提供校正脉冲，通过ＩＣ测试装置具有的定时计测功能来计测该探针内设置的基准比较器（ＣＰ－ＲＦ）取出的校正脉冲的定时和从探针内设置的基准驱动器（ＤＲ－ＲＦ）向ＩＣ插座施加的基准校正脉冲的定时，进行定时校正。

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