[TiMing]：GuangCunChuCaiLiaoCunChuTeZhengJingTaiCeShiZhuangZhi
[申请号]：01126359[公开号]：1338730
[公告号]：1155947[申请日期]：20010727
[公开日期]：20020306[公告日期]：00000000
[授权日期]：20040630
[专利类型]：发明专利
[国际类型]：G11B7/00;G11B7/26;G11B20/18
[申请人]：中国科学院上海光学精密机械研究所
[ShenQingRen]：ZhongGuoKeXueYuanShangHaiGuangXueJingMiJiXieYanJiuSuo
[国家省市]：上海(31)
[地址]：上海市800－211邮政信箱
[DiZhi]：ShangHaiShi800－211YouZhengXinXiang
[邮编]：201800
[发明人]：徐文东;干福熹 [FaMingRen]：XuWenDong、GanFuZuo
[代理人]：张泽纯 [DaiLiRen]：ZhangZeChun
[代理机构]：上海新天专利事务所(31213)[代理地址]：上海市复兴中路526号503室(200020)
[审批历史]：
[页数]：9[附图]：1[优先权]：[PCT]：[范畴]：39C40C31C[权利要求]：
一种光存储材料存储特征静态测试装置，包括 〈１〉测试光源部分：含有沿着激光器（６）发射光束（Ｇ）前进方向的光轴（ｏｏ）上依次置有声光调制器（７）、扩束组件（８）、偏光棱镜（９）、四分之一波片（１０
[权利要求数]：2
[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com
[摘要]： 一种光存储材料存储特征静态测试装置，主要适用各种光盘记录层材料存储特征的测试。包括测试光源部分、测试显示部分、光束写入读出部分、调整被测位置部分、监视显示部分和监视光源。其中光束写入读出部分是置于被测样品的被测记录层表面之上，有高数值孔径物镜与半球形固体浸润透镜结合为更高数值孔径的显微物镜。所以本发明比在先技术的测试装置分辨率高、测量精度高。更换高数值孔径物镜和半球形固体浸润透镜方便，调节被测样品的位置也方便。本发明中有监视显示部分和监视光源。可以直观地监视调焦过程，并直接观察记录光斑和记录点的形貌，使装置测试直观而操作方便，提高了测试效率。
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[下一条]：组分分布均匀的球形稀土化合物的喷雾反应制备方法
