用于测试液晶驱动器的半导体集成电路的测试方法和装置YongYuCeShiYeJingQuDongQiDeBanDaoTiJiChengDianLuDeCeShiFangFaHeZhuangZhi

[题名]：用于测试液晶驱动器的半导体集成电路的测试方法和装置YongYuCeShiYeJingQuDongQiDeBanDaoTiJiChengDianLuDeCeShiFangFaHeZhuangZhi

[TiMing]：YongYuCeShiYeJingQuDongQiDeBanDaoTiJiChengDianLuDeCeShiFangFaHeZhuangZhiYongYuCeShiYeJingQuDongQiDeBanDaoTiJiChengDianLuDeCeShiFangFaHeZhuangZhi

[申请号]：01141172[公开号]：1344940

[公告号]：1201160[申请日期]：20010929

[公开日期]：20020417[公告日期]：00000000

[授权日期]：20050511

[专利类型]：发明专利

[国际类型]：G01R31/28;H03M1/76;H01L21/66;H01L27/04

[申请人]：夏普公司

[ShenQingRen]：XiaPuGongSi

[国家省市]：日本(JP)

[地址]：日本大阪市

[DiZhi]：RiBenDaZuoShi

[邮编]：

[发明人]：内田炼  [FaMingRen]：NeiTianLian

[代理人]：吴增勇;傅康  [DaiLiRen]：WuZengYong,FuKang

[代理机构]：中国专利代理(香港)有限公司(72001)[代理地址]：香港湾仔港湾道23号鹰君中心22字楼()

[审批历史]：

[页数]：20[附图]：9[优先权]：    日本2000年9月29日299844/00[PCT]：[范畴]：38E31F40B[权利要求]：
    一种用于半导体集成电路的测试方法，其中，    在由具有比较判断电路的半导体测试装置来测试的所述测试方法中，所述比较判断电路通过所述灰度输出电压和基准电压的比较，判断与多个ＤＡ转换器和决定所述灰度输出电

[权利要求数]：33

[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]： 把基极电源电压的设置值分配在液晶驱动器的驱动电压的技术规范的上限值１０［Ｖ］与下限值０［Ｖ］之间。可以产生基极电源端的Ｖ１至Ｖ２之间的１０［Ｖ］的基极电源电位差。通过把包括在这些基极电源端的Ｖ１至Ｖ２之间的灰度电平作为测试对象，每个相邻灰度输出电平可相互具有大约２００［ｍＶ］的电位差（各端之间的基极电源电位差１００００［ｍＶ］／５１个灰度电平）。对于包括在这些基极电源端之间的灰度电平，对于每个灰度电平，在依次改变输入数据并且改变比较器的判断电平的设置的同时进行测试，并且测试所有的包括在这个间隔中的灰度电平。

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