测试片支架及用于去除其上多余分析物的装置CeShiPianZhiJiaJiYongYuQuChuQiShangDuoYuFenXiWuDeZhuangZhi

[题名]：测试片支架及用于去除其上多余分析物的装置CeShiPianZhiJiaJiYongYuQuChuQiShangDuoYuFenXiWuDeZhuangZhi

[TiMing]：CeShiPianZhiJiaJiYongYuQuChuQiShangDuoYuFenXiWuDeZhuangZhiCeShiPianZhiJiaJiYongYuQuChuQiShangDuoYuFenXiWuDeZhuangZhi

[申请号]：00102865[公开号]：1266187

[公告号]：1184464[申请日期]：20000306

[公开日期]：20000913[公告日期]：00000000

[授权日期]：20050112

[专利类型]：发明专利

[国际类型]：G01N1/28;G01N35/00

[申请人]：株式会社京都第一科学

[ShenQingRen]：ZhuShiHuiSheJingDuDiYiKeXue

[国家省市]：日本(JP)

[地址]：日本国京都府

[DiZhi]：RiBenGuoJingDuFu

[邮编]：

[发明人]：仲道男;山形秀成;平山浩二  [FaMingRen]：ZhongDaoNan、ShanXingXiuCheng、PingShanHaoEr

[代理人]：姜丽楼  [DaiLiRen]：JiangLiLou

[代理机构]：中科专利商标代理有限责任公司(11021)[代理地址]：北京市海淀区海淀路80号中科大厦16层(100080)

[审批历史]：

[页数]：9[附图]：6[优先权]：    日本1999年3月4日56580/99[PCT]：[范畴]：31E16C[权利要求]：
    一种测试片支架，其包括一个细长顶表面和一对位于该顶表面下面的侧表面（２４），该顶表面上设置有一个由细长底壁（２１）和一对凸脊（２２）限定的测试片固定槽（２０），每个凸脊从该底壁（２１）的各个纵向边缘

[权利要求数]：0

[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]： 一种测试片支架（２）包括一细长顶表面和一对位于顶表面下面的侧表面（２４）。顶表面上设置有一由细长底壁（２１）和一对凸脊（２２）限定的测试片固定槽（２０），每个凸脊从该壁（２１）的各个纵向边缘隆起，形成有多个上部毛细管槽（４１），该毛细管槽竖直延伸，开口于测试片固定槽（２０）。该底壁（２１）形成有多个毛细管孔（４２），该毛细管孔与上部毛细管槽（４１）相对应和相连通，向各个侧表面（２４）开口。

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