集成电路实时检测的系统结构及其测试方法JiChengDianLuShiShiJianCeDeXiTongJieGouJiQiCeShiFangFa

[题名]：集成电路实时检测的系统结构及其测试方法JiChengDianLuShiShiJianCeDeXiTongJieGouJiQiCeShiFangFa

[TiMing]：JiChengDianLuShiShiJianCeDeXiTongJieGouJiQiCeShiFangFaJiChengDianLuShiShiJianCeDeXiTongJieGouJiQiCeShiFangFa

[申请号]：00819654[公开号]：1454320

[公告号]：0000000[申请日期]：20000424

[公开日期]：20031105[公告日期]：00000000

[授权日期]：00000000

[专利类型]：发明专利

[国际类型]：G01R31/28

[申请人]：陆放

[ShenQingRen]：LuFang

[国家省市]：中国(CN)

[地址]：北京香山百善坡A/2号

[DiZhi]：BeiJingXiangShanBaiShanPoA/2Hao

[邮编]：

[发明人]：陆放 [FaMingRen]：LuFang

[代理人]：吴磊 [DaiLiRen]：WuLei

[代理机构]：北京康信知识产权代理有限责任公司(11240)[代理地址]：北京市西城区金融大街33号通泰大厦B402室(100032)

[审批历史]：

[页数]：12[附图]：6[优先权]：[PCT]： [范畴]：31F38F[权利要求]：
一个实时集成电路测试系统利用已知是正确的（ｋｎｏｗｎ－ｇｏｏｄ）ＩＣ（ＫＧＩＣ）进行ＤＵＴＩＣ测试，其特征在于其集成电路测试系统包含：一个包容上述已知是正确的（ｋｎｏｗｎ－ｇｏｏｄ）ＩＣ（ＫＧＩ

[权利要求数]：12

[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]： 本发明描述的是一个集成电路测试系统。该集成电路测试系统能够对待测集成电路设备（ＤＵＴ）进行测试。该集成电路测试系统包含一个目标系统的接口。该目标系统包含一个结构上功能上和ＤＵＴ一样的已知是好的集成电路（ＫＧＩＣ）。ＫＧＩＣ在目标系统上实现后可以用于目标系统的常规操作。目标系统运行诊断程序来检测ＫＧＩＣ，或者发送适当的指令促使ＫＧＩＣ为目标系统执行不同的功能。本发明设计的接口系统能够实时捕获从ＫＧＩＣ发出的或者向ＫＧＩＣ发送的信号。本发明的测试系统把ＫＧＩＣ的输入信号作为ＤＵＴ的激励信号输入ＤＵＴ。然后把ＫＧＩＣ产生的输出信号作为参考信号和相应的ＤＵＴ的响应信号进行比较，检测故障。

[相关文献]：更多相似文献

集成电路实时检测的系统结构及其测试方法

集成电路远程测试系统及其测试方法

提高封装集成电路的可测性和减少测试时间的方

[在baidu中查找]：集成电路实时检测的系统结构及其测试方法JiChengDianLuShiShiJianCeDeXiTongJieGouJiQiCeShiFangFa

[在google中查找]：集成电路实时检测的系统结构及其测试方法JiChengDianLuShiShiJianCeDeXiTongJieGouJiQiCeShiFangFa

[上一条]：教育设备

[下一条]：机动车

[打印] [关闭] 来源:patents.dic123.com 专利查询 http://patents.dic123.com