一种用光信号进行同步相位测量的方法及装置YiZhongYongGuangXinHaoJinXingTongBuXiangWeiCeLiangDeFangFaJiZhuangZhi

[题名]：一种用光信号进行同步相位测量的方法及装置YiZhongYongGuangXinHaoJinXingTongBuXiangWeiCeLiangDeFangFaJiZhuangZhi

[TiMing]：YiZhongYongGuangXinHaoJinXingTongBuXiangWeiCeLiangDeFangFaJiZhuangZhiYiZhongYongGuangXinHaoJinXingTongBuXiangWeiCeLiangDeFangFaJiZhuangZhi

[申请号]：200410013405[公开号]：1595181

[公告号]：0000000[申请日期]：20040630

[公开日期]：20050316[公告日期]：00000000

[授权日期]：00000000

[专利类型]：发明专利

[国际类型]：G01R25/00;G01R29/18

[申请人]：武汉理工大学

[ShenQingRen]：WuHanLiGongDaXue

[国家省市]：武汉(83)

[地址]：湖北省武汉市武昌珞狮路122号

[DiZhi]：HuBeiShengWuHanShiWuChangZuoShiLu122Hao

[邮编]：430070

[发明人]：何嘉斌;严杰;何方  [FaMingRen]：HeJiaBin、YanJie、HeFang

[代理人]：潘杰  [DaiLiRen]：PanJie

[代理机构]：武汉市专利事务所(42104)[代理地址]：湖北省武汉市解放大道1087号(430016)

[审批历史]：

[页数]：8[附图]：6[优先权]：[PCT]：[范畴]：[权利要求]：
    一种用光信号进行同步相位测量的方法，由一个主机和多个测量部件构成，其特征在于：通过各个独立回路测量部件的测量，采用光信号作为测量中的同步信号进行测量，同时将数据传输给主机；然后通过主机汇总各个回路的

[权利要求数]：1

[来源]： 专利查询 http://patents.dic123.com patents.dic123.com

[摘要]： 本发明涉及一种用光信号进行同步相位测量的方法及装置，由一个主机和多个测量部件构成，其特点是：通过各个独立回路测量部件的测量，采用光信号作为测量中的同步信号进行数据传输给主机，然后通过主机汇总各个回路的数据进行计算确定被测参数，即引入三维变量的间接测量方式取代直接测量法。本发明由于采用间接测量的方式，不再需要采用把两个参数接入到同一个仪器设备的（即直接测量）方法，只需要建立每个参数和光同步信号之间的函数关系就可以了，多个测量回路不再需要在电路上的连接，它们完全可以是独立的，依靠光同步信号就能够间接地测量到多个测量回路参数之间的相位关系。

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