- 一种快速的集成电路测试流程优化方法
- [地址]北京市中关村科学院南路6号 [申请人]中国科学院计算技术研究所 [公开号]1560646 [国家省市]北京(11) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 一种快速的集成电路测试流程优化方法，通过对测试项目重排序，减少了失效芯片的测试时间。包括步骤：Ｓ１０：确定验证分析阶段测试向量和测试流程；Ｓ２０：确定的测试向量和测试流程对芯片进行验证分析并得到原始的通过／失效测试信息表；Ｓ３０：调用转换程序将通过／失效测试信息表转化为测试项目有效性表；Ｓ４０：应用基于测试效率系数的排序方法，对测试项目进行优化，得到一个优化的测试流程。本发明提出....
- 发明人：韩银和;李晓维代理人：周国城代理机构：中科专利商标代理有限责任公司(11021)专利类型：发明专利
- 半导体集成电路的测试装置
- [地址]日本国大阪府门真市 [申请人]松下电器产业株式会社 [公开号]1573344 [国家省市]日本(JP) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 本发明提供能够在被测定器件近旁配置由ＢＯＳＴ板等构成的多个器件测定装置，能够对系统ＬＳＩ等半导体集成电路中混合载置的多个电路进行高精度测试的半导体集成电路的测试装置。本发明的半导体集成电路的测试装置具备：以半导体集成电路的制造工序中的品质是否良好的检查、或功能、性能的评价为目的，由对半导体集成电路构成的被测定器件（４）进行信号交换的测定部（５）和用可编程的器件对来自所述测定部（５....
- 发明人：鐮野智;金光朋彦代理人：包于俊代理机构：上海专利商标事务所(31100)专利类型：发明专利
- CMOS电路的闩锁效应测试方法
- [地址]广东省广州市天河区东莞庄路110号 [申请人]信息产业部电子第五研究所 [公开号]1588107 [国家省市]广州(81) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 一种ＣＭＯＳ电路的闩锁效应测试方法，可用于测试ＣＭＯＳ集成电路的触发电压／电流、维持电压／电流的准确数值和二次击穿电压／电流抗闩锁能力参数，测试时首先将待测器件所有的输入端连接到地，输出端悬空，再按如下步骤进行：首先，对待测端进行直流电压扫描测试，直到待测端对地导通，得到待测端的触发电压Ｖｏｎ；然后，对待测端进行脉冲电流Ｉｐｕｌｓｅ测试，直到出现闩锁，得到触发电流和维持电压／电流；最后，对待测端进行脉冲电压Ｖｐｕｌｓｅ测试，直到出现二次击穿，得到二次击穿电压／电流。
- 发明人：罗宏伟代理人：温旭代理机构：广州三环专利代理有限公司(44202)专利类型：发明专利
- 半导体集成电路
- [地址]日本大阪府 [申请人]松下电器产业株式会社 [公开号]1591034 [国家省市]日本(JP) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 提供一种半导体集成电路，能够不遗漏在晶片级老化测试中未能观测的端子上的不合格情况地对全部端子进行观测。该半导体集成电路具有逻辑电路，且包括：用于对上述半导体集成电路提供老化测试用信号（１００）的多个ＳＣＡＮ输入端子（１、２１）；把上述老化测试用信号（１００）作为输入，在测试上述逻辑电路（２６）时使用的测试电路（２０）；用于在外部观测上半导体集成电路的输出信号的ＳＣＡＮ输出端子（２....
- 发明人：条昇子;山登猛代理人：岳耀锋代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所(11038)专利类型：发明专利
- 传感器信号检测装置
- [地址]日本京都府 [申请人]罗姆股份有限公司 [公开号]1576872 [国家省市]日本(JP) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 本发明提供一种改善可靠性的传感器信号检测装置。这个传感器信号检测装置包括：内部电源电压产生电路，用于从传感器接收信号的缓冲放大器；第一上来元件和下来元件，它们经过第一对开关与该缓冲放大器的输入端连接；用于接收缓冲放大器输出信号的增益放大器；第二上来元件和下来元件，它们经过第二对开关与该增益放大器的输入端连接；和故障检查电路，它通过以预定次序控制两对开关的连接来检查缓冲放大器和增益放大器，并且当电源启动时测量在预定位置的电压。
- 发明人：梅木伸彰代理人：朱进桂代理机构：中科专利商标代理有限责任公司(11021)专利类型：发明专利
- 用于选择测试模式输出通道的测试布置及方法
- [地址]联邦德国慕尼黑 [申请人]印芬龙科技股份有限公司 [公开号]1591035 [国家省市]联邦德国(DE) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 一种用于测试待测电路单元（１０１、１０１ａ～１０１ｎ）的测试布置，具有：测试设备，用于保持待测电路单元；输入／输出通道（ＤＱ０～ＤＱｎ），用于将所述待测电路单元与所述测试设备相连，以及用于与所述待测电路单元交换测试数据；以及测试模式输出通道（１０３、１０３ａ～１０３ｎ），用于输出来自所述待测电路单元的测试结果数据（１０４、１０４ａ～１０４ｎ），其中在所述待测电路单元中设置至少一个....
- 发明人：托马斯·芬特斯;比约恩·弗拉赫;克劳斯·霍夫曼;安德列斯·洛吉希;沃尔夫冈·鲁夫;马丁·施内尔代理人：朱进桂代理机构：中科专利商标代理有限责任公司(11021)专利类型：发明专利
- 半导体器件及其测试方法
- [地址]日本东京 [申请人]株式会社瑞萨科技 [公开号]1624489 [国家省市]日本(JP) [国际分类]G01R31/28 [摘要]
- 发明人：今川健吾;幕内雅巳;中条德男;折桥律郎;荒井祥智代理人：王以平代理机构：中国国际贸易促进委员会专利商标事务所(11038)专利类型：发明专利
- 半导体集成电路验证方法和测试模式准备方法
- [地址]日本大阪府 [申请人]松下电器产业株式会社 [公开号]1627091 [国家省市]日本(JP) [国际分类]G01R31/28 [摘要]
- 发明人：吉田贵辉;赵智敬介代理人：酆迅代理机构：(11256)专利类型：发明专利
- 薄膜探针测试装置
- [地址]台湾省台北市 [申请人]旭贸股份有限公司 [公开号]00000000 [国家省市]台湾(71) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 本实用新型提供一种薄膜探针测试装置，包括一压着平台，其是位于一待测显示器驱动连接线路的上方，一薄膜沿着该压著平台的表面延伸而挠曲形成ㄈ字型，且该薄膜在位于压著平台下表面的部位是朝下凸设有复数个与待测显示器驱动连接线路的导电接点相对应的探针接点，每一该探针接点各拉引出一导电连线延伸至该压著平台上表面的薄膜部位，且在每一该导电连线的终点上各设有一导电端点，以供连接至一信号输入输出端。故本实用新型由弯曲薄膜的设计，不需复杂的结构即可轻易使测试线路布局至信号输入输出端。
- 发明人：柯颖和代理人：汤保平代理机构：中科专利商标代理有限责任公司(11021)专利类型：实用新型
- 防扎痕测试治具
- [地址]广东省深圳市宝安区松岗镇山门村锦江路3号 [申请人]昆翌电子（深圳）有限公司 [公开号]00000000 [国家省市]深圳(94) [国际分类]G01R31/28 [摘要] 本实用新型公开了一种防扎痕测试治具，专用于高密度细微线路板，如高阶的大尺寸面板（ＴＦＴ－ＬＣＤ）测试其电路是否完整导通使用，以特有的胶质导通介面作为导通的媒介功用，以防止尖锐的探针结构对待测基板易产生的针痕伤害；本实用新型是由胶质导通介面、转接板、转接固定板、测试探针、导体线材、牛角排线，与一外接专用测试机及其搭配专用设计使用的荧幕或网路检修软件所组合而成，而其中的胶质导通介面是....
- 发明人：林鸿霖代理人：张建成代理机构：吉林省吉利专利事务所(22206)专利类型：实用新型
